磁性材料成分元素檢測儀介紹

X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術(shù)使分類更準確，有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的消除。