這一儀器在國內(nèi)技術(shù)基礎(chǔ)上，采用了“智能動(dòng)態(tài)跟蹤"和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸"等*技術(shù)，使傳統(tǒng)的儀的日常調(diào)整和標(biāo)樣曲線的建立方法起了根本性的變化。現(xiàn)已大量地應(yīng)用在冶金、鑄造、采礦、建筑、機(jī)械、電子、環(huán)保、衛(wèi)生、化工、電力、技術(shù)監(jiān)督等三班倒連續(xù)作業(yè)以及雜技上對固定的場合，如爐前、成品來料化驗(yàn)等。

     X熒光合金材料光譜檢測儀為X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
     X熒光合金材料光譜檢測儀的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

性能特點(diǎn)

超薄窗X光管
數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，準(zhǔn)度更高，在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增大效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測

微機(jī)有色金屬分析儀能檢測有色金屬，可分析銅合金硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素的分析，可儲(chǔ)存16條曲線，并可進(jìn)行曲線修正，具有斷電數(shù)據(jù)保護(hù)等功能，結(jié)果數(shù)據(jù)直顯且可自動(dòng)打印。

主要分類：

HNi65-5鎳黃銅具有單相的α組織，室溫下具有很好的塑性，也可在熱態(tài)下變形，但是對雜質(zhì)鉛的含量必須嚴(yán)格控制，否制會(huì)嚴(yán)重惡化合金的熱加工性能。