X射線熒光測厚儀 鍍層分析儀介紹：

X射線熒光測厚儀 鍍層分析儀是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件，如線路?板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù)，人機交互全面優(yōu)化，操作更加方便快捷?？煽康母咝阅?測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時減少浪費和停機時間。?更高的性價比?制造工藝升級，更具性價比。

XD-1000是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件，如線路?板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù)，人機交互全面優(yōu)化，操作更加方便快捷。

可靠的高性能

?測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時減少浪費和停機時間。

?更高的性價比?

制造工藝升級，更具性價比，大大節(jié)省使用成本。?

前沿檢測技術(shù)

?高集成垂直光路系統(tǒng)，采用*解請技術(shù)和影像識別算法，實現(xiàn)精準(zhǔn)、快速、智能、自動檢測，滿足企業(yè)檢測需求。

?使用壽命更長?

模塊化設(shè)計，聚焦節(jié)能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命。

?核心EFP算法?

*EFP算法不但對多層測試準(zhǔn)、校準(zhǔn)方便，而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測題。

?四焦一體裝置

?搭載高集成四焦技術(shù)，可測量最大90mm深度的凹槽高低落差異形件。

?上照式設(shè)計?

上下位機管理分工，可實現(xiàn)對超大型工件的快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效測量。?

適用性強?

精準(zhǔn)測量各類金屬鍵層厚度的同時可對電鍍液進(jìn)行分析。

1.自動

?可編程自動位移平臺，無人值守、自動檢測樣品;一次編程，便可實現(xiàn)成百上千個樣品點的高效檢測。

2.智能

?實現(xiàn)自動Al影像智能尋點，編程檔案自動匹配測試位置，在面對大批同類型樣品檢測時，具備明顯的優(yōu)勢。

3.在線

?根據(jù)客戶要求，可個性化定制產(chǎn)線在線式檢測，為工業(yè)4.0提供在線檢測整體解決方案，提高檢測效率，實現(xiàn)自動智能化工廠。

半導(dǎo)體Au/Ni/Ti/Si……

光伏行業(yè)SnPb/Cu……

電鍍液?Nisol、Sn sol、Au sol……

汽車零部件Au/Ni/FeNi?……

衛(wèi)浴方面?Cr/Ni/CuZn、Cr/Ni/Cu/ABS……

5G通訊Ag/Al……

五金配件Ni/Cu?……

航天航空Au/Ni/FeNi?……

引線支架Au/Pd/Ni/CuFe?……

線路板?Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu…最小測量面積可達(dá)0.01mm2